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Strukturelle Untersuchungen an Wismut-d-Schichten auf Silicium (001)

Strukturelle Untersuchungen an Wismut-d-Schichten auf Silicium (001)
Über dieses Buch
  • Art: Diplomarbeit
  • Autor: Olaf Mielmann
  • Abgabedatum: Juni 1997
  • Umfang: 119 Seiten
  • Dateigröße: 5,1 MB
  • Institution / Hochschule: Universität Hamburg Deutschland
  • ISBN (eBook): 978-3-8324-0145-0
  • ISBN (Paperback) :
    978-3-8324-0145-0 P
  • ISBN (CD) :978-3-8324-0145-0 CD
  • Sprache: Deutsch
  • Prämierung:
  • Arbeit zitieren: Mielmann, Olaf Juni 1997: Strukturelle Untersuchungen an Wismut-d-Schichten auf Silicium (001), Hamburg: Diplomica Verlag
  • Schlagworte: dünne Wismutfilme, Halbleiter, Konzentrationsverteilung, Synchrotronstrahlung, Ultrahochvakuum-Präparation

Diplomarbeit von Olaf Mielmann

Gang der Untersuchung:

Zunächst sollen in Kapitel 2 physikalische Grundlagen besprochen werden, die als Basis für die zum Einsatz gekommenen Meßmethoden gelten. Dabei ist vor allem die dynamische Beugungstheorie hervorzuheben. Durch diese Theorie kann unter anderem verstanden werden, wie sich bei der Einstrahlung ebener Röntgenwellen auf einen Einkristall in Bragg-Bedingung ein stehendes Wellenfeld durch Superposition von einfallender und Bragg-reflektierter Welle ausbildet. Diese Tatsache bildet im Rahmen dieser Arbeit eine wichtige physikalische Grundlage für die Untersuchung von Proben mit stehenden Röntgenwellenfeldern, wie sie in Kapitel 3 beschrieben sind. Dabei wird ausgenutzt, daß durch die Variation der Phase zwischen ein- und ausfallender Welle das Intensitätsmaximum des Wellenfeldes relativ zu den Netzebenen des Kristalls definiert verschoben werden kann. Im Kristall eingebaute Atome werden dadurch mehr oder weniger stark zur Fluoreszenz angeregt, so daß sich ihre Positionen relativ zu den Beugungsebenen bestimmen lassen.

Die Prinzipien der Streuung von Heliumionen mittlerer Energie (MEIS) und der Beu-gung niederenergetischer Elektronen (SPA-LEED) sind in Kapitel 4 dargestellt. Dort werden die Grundlagen für die spätere Auswertung behandelt.

In Kapitel 5 ist die Probenherstellung beschrieben. Wichtigen Raum nehmen dort vor allem die Eichung der Verdampfer sowie SPA-LEED-Aufnahmen der rekonstruierten Wismutoberflächen ein.

Zur Aufnahme von Fluoreszenzspektren, sowie zur Justage und Stabilisierung des Experiments mit stehenden Wellen, kamen Röntgendetektoren zum Einsatz, die in Kapitel 6 vorgestellt werden.

Auf die Messungen mit stehenden Wellen geht Kapitel 7 ein. Im Vordergrund stehen die Charakteristik des eingestzten Monochromators, die Geometrie des Aufbaus und die Steuerung des Experiments.

Die Auswertung der Messungen mit Innenstreuung werden in Kapitel 8 ausgeführt. Im Blickpunkt stehen hierbei die Berechnung der Oberflächenschichtdicke und die Zuordnung der Wismutkonzentration in die einzelnden Kristallagen.

Kapitel 9 schildert das Auswertungsverfahren für Daten, die mit stehenden Wellen aufgenommen wurden und liefert die Ergebnisse dieser Messungen und erste Diskussionen.

Die Einordnung der Meßergebnisse spielt in Kapitel 10 eine wichtige Rolle. Die Entwicklung eines Modells, aus dem sich die Messungen wiederspruchsfrei ergeben, ermöglicht eine Vorhersage über die Konzentrationsverteilung von Wismut in einer Probe, an der keine Ionenstreuspektren aufgenommen wurden.

Im Anschluß sind die wichtigsten Ergebnisse dieser Arbeit noch einmal zusammengefaßt.

Inhaltsverzeichnis:

1. Einleitung
2. Theorie 5
2.1 Einwirkung von Strahlung auf Materie 5
2.1.1 Photon-Elektron-Streuung 5
2.1.2 Photon-Phonon-Wechselwirkung 6
2.1.3 Photoeffekt 7
2.1.4 Fluoreszenz 9
2.2 Kristallstrukturen 9
2.3 Beugung an periodischen Strukturen 13
2.3.1 Kinematische Beugungstheorie 13
2.3.2 Streubedingung und Braggsches Gesetz 14
2.3.3 Dynamische Beugungstheorie 17
2.3.4 Beugung an zweidimensionalen periodischen Strukturen 24
2.4 Beschreibung von Kristalloberflächen 24
2.4.1 Oberflächenrekonstruktionen 24
2.4.2 Formale Beschreibung 25
3. Stehende Röntgenwellen zur Positionsbestimmung 29
3.1 Das stehende Röntgenwellenfeld 29
3.2 Kohärente Position und Fraktion 33
4. Ergänzende Meßmethoden 35
4.1 Innenstreuung 35
4.2 Elektronenbeugung bei niedriger Energie 39
4.3 Auger-Elektronen-Spektroskopie 42
5. Probenherstellung 43
5.1 Zielsetzungen bei der Probenherstellung 43
5.2 Die Ultrahochvakuum-Apparatur 44
5.3 Die Probenpräparation 45
5.3.1 Eichung der Verdampfer 45
5.3.2 Variationen in der Präparation 50
6. Röntgendetektoren 53
6.1 Ionisationsdetektoren 53
6.2 Halbleiterdetektoren 54
7. Stehende Wellen am Meßplatz ROEMO I 57
7.1 Doppelkristallmonochromator 58
7.1.1 Divergenz, Akzeptanz und Emittanz 58
7.1.2 Geometrischer Aufbau 60
7.1.3 Monochromatorstabilisierung 61
7.2 Meßaufbau 62
7.3 Datennahme 62
8. Auswertung der Ionenstreumessungen 65
8.1 Vorüberlegungen 65
8.2 Meßergebnisse 66
8.3 Bestimmung der Schichtdicke 68
8.4 Verteilungsfunktion 68
8.5 Ausgangskonzentration 08
9. Auswertung der Messungen mit stehenden Wellen 71
9.1 Bestimmung von kohärenter Position und Faktion 71
9.2 Ergebnisse 73
9.3 Diskussion 77
10. Das Modell 84
10.1 Voraussetzungen 84
10.2 Das Computerprogramm eMerr 85
10.2.1 Verzerrungskonstante -yB2 und Positionsparameter h2 85
10.2.2 Programmablauf 88
10.3 Lösungen 89
10.3.1 Modell l 90
10.3.2 Modell 2 92
10.3.3 Modell 3 94
10.3.4 Modell 4 96
10.4 Diskussion der Modelle 96
10.5 Anwendung der Ergebnisse 100
11. Zusammenfassung und Ausblick 103
Literaturverzeichnis 107
Danksagung 111

Arbeit zitieren:
Mielmann, Olaf Juni 1997: Strukturelle Untersuchungen an Wismut-d-Schichten auf Silicium (001), Hamburg: Diplomica Verlag

Schlagworte:
dünne Wismutfilme, Halbleiter, Konzentrationsverteilung, Synchrotronstrahlung, Ultrahochvakuum-Präparation

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